专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]路面标线玻璃珠研磨测试装置-CN202121820798.6有效
  • 漆敬东;赵成果;吴敏 - 绵阳光耀新材料有限责任公司
  • 2021-08-05 - 2022-01-04 - G01N19/00
  • 本实用新型公开了路面标线玻璃珠研磨测试装置,涉及玻璃珠测试领域,包括物理研磨介质、化学侵蚀介质、研磨罐和转动件;物理研磨介质硬度大于玻璃珠硬度;根据实际使用场景在研磨罐内放置物理研磨介质和化学侵蚀介质,转动件驱动研磨罐转动,使得待测试的玻璃珠在研磨罐中发生相应的物理磨损和化学侵蚀反应,实现模拟测试的目的,模拟测试完成后,取出玻璃珠,并置于显微镜下观察其表面损伤情况或测试其反光亮度,再进行对比分析,便可以对实际使用场景中玻璃珠的情况进行预测
  • 路面标线玻璃珠研磨测试装置
  • [发明专利]研磨方法及研磨装置-CN201410566888.5有效
  • 渡边博光;山口都章;小畠严贵;和田雄高 - 株式会社荏原制作所
  • 2014-10-22 - 2018-04-06 - B24B57/02
  • 一种研磨方法以及研磨装置。在该研磨方法中一边将通过过滤器(14)的研磨液供给到研磨垫(1)上、一边使基板(W)与研磨垫(1)滑动接触而对该基板(W)进行研磨,一边增加作为研磨液的物理量的研磨液的流量及压力中的某一方直至所述物理量达到规定的设定值、一边使研磨液通过过滤器(14),一边将通过过滤器(14)的研磨液供给到研磨垫(1)上、一边在研磨垫(1)上对基板(W)进行研磨。采用本发明,可防止粗大粒子被排出到研磨垫上的现象,同时可对基板进行研磨
  • 研磨方法装置
  • [发明专利]介质层的物理性能、半导体芯片性能的监测方法-CN202210851428.1在审
  • 程刘锁;许隽;张继亮 - 华虹半导体(无锡)有限公司
  • 2022-07-19 - 2022-11-04 - B24B37/005
  • 本发明提供一种介质层的物理性能、半导体芯片性能的监测方法,其中介质层的物理性能的监测方法包括:建立椭圆偏振法以测试介质层相关物理参数的光学量程式;获取之前至少两个生产批次中所有介质层的折射率及其研磨率;根据所述介质层的折射率及其研磨率,建立数据模型;测试当前生产批次中的介质层的折射率;利用所述数据模型获取当前生产批次中的介质层对应的研磨率。本申请通过根据所述介质层的折射率及其研磨率,建立有效的数据模型来合理预测当前批次及之后所有批次的介质层的研磨率,并且根据不断生产的批次还可以动态修正所述数据模型,实现了介质层的物理性能的动态监测和精确监控
  • 介质物理性能半导体芯片性能监测方法
  • [发明专利]基板处理系统-CN202080037700.1有效
  • 鸟越恒男;畠山雅规;中迂良 - 株式会社荏原制作所
  • 2020-05-20 - 2023-08-29 - B24B37/005
  • 具备:传感器,该传感器设置于基板处理装置,检测对象基板处理中的对象物理量;及预测部,该预测部将通过该传感器检测的物理量的时间序列数据或以时间对该物理量的时间序列数据进行微分而得到的时间序列数据输入完成学习的机器学习模型,从而输出作为结束研磨的时刻的研磨终点时刻,该机器学习模型是如下模型:使用将过去的该物理量的时间序列数据或以时间对该过去的物理量的时间序列数据进行微分而得到的时间序列数据作为输入、并将过去的研磨终点时刻作为输出的学习用的数据集进行机器学习
  • 处理系统
  • [发明专利]一种CMP仿真模型的建立方法及系统-CN201710606884.9有效
  • 徐勤志;陈岚;郭叶 - 中国科学院微电子研究所
  • 2017-07-24 - 2023-02-28 - G06F30/20
  • 本发明提供一种CMP仿真模型的建立方法,包括:根据研磨液中化学组分的化学反应以及研磨颗粒的机械去除机理,建立化学动力去除模型,所述化学动力去除模型的去除速率至少与化学组分的浓度以及机械研磨速率相关;根据晶圆表面和研磨颗粒的受力分析以及研磨垫的形变分析,建立晶圆与研磨颗粒及研磨垫的接触力学模型;建立研磨液化学组分在晶圆表面不同区域的浓度分布模型;根据所述接触力学模型和所述浓度分布模型,通过所述化学动力去除模型建立多物理去除模型。该模型可以深刻阐释晶圆表面材质的多物理去除机制,进而实现晶圆表面形貌以及工艺偏差的动态模拟,为CMP工艺中参数设置以及设计优化提供指导。
  • 一种cmp仿真模型建立方法系统
  • [实用新型]一种物理实验用机械研磨-CN202020895645.7有效
  • 汪家烨 - 汪家烨
  • 2020-05-25 - 2021-01-05 - B24B13/00
  • 本实用新型公开了一种物理实验用机械研磨机,包括底座、放置座、背座以及研磨机主体,所述放置座固定安装在底座的上端外表面,所述背座固定安装在底座的后端外表面,所述放置座的内部固定安装有自锁滑轨与自锁滑块,所述自锁滑块活动安装在自锁滑轨的内部,所述自锁滑块的上端外表面还固定安装有章鱼吸盘与卡箍,本实用新型可以快速对物理实验过程中需要研磨的镜片进行固定,同时对固定结构进行夹持稳定,避免固定结构因不稳定性造成镜片的研磨失败,还可以对需要研磨的镜片进行水平方向定位以及对研磨头进行竖直方向定位,以使得研磨头与镜片进行充分接触,保证了镜片的研磨效果,提高机器的研磨效率。
  • 一种物理实验机械研磨机
  • [发明专利]一种以鳞片石墨为原料的石墨烯物理制备方法-CN202010450063.2有效
  • 张诚;沈伟亮;李俊贤 - 杭州烯创科技有限公司
  • 2020-05-25 - 2022-07-01 - C01B32/19
  • 本发明提供了一种以鳞片石墨为原料的石墨烯物理制备方法,属于石墨烯材料领域。它解决了现有物理制备法制备石墨烯,存在石墨烯产能低、品质欠佳、成本高等问题等问题,一种以鳞片石墨为原料的石墨烯物理制备方法,其特征在于,包括以下步骤:S01:对鳞片石墨进行预处理,然后与插层剂、溶剂、渗透剂混合搅拌;S02:将步骤S01中搅拌后得到的悬浊液在研磨设备中进行两步研磨,逐步提高研磨压力和速度,研磨完毕后,泄压得到石墨烯分散液;S03:对步骤S02中得到的石墨烯分散液进行喷雾干燥,得到石墨烯粉体。
  • 一种鳞片石墨原料物理制备方法
  • [发明专利]基于新型碳纤维粉的生产工艺及其装置-CN202110004715.4在审
  • 苏铭杰;谢飞鹏;赵平 - 安徽臻戈智能科技有限公司
  • 2021-01-04 - 2021-05-28 - B02C21/00
  • 本发明公开了一种基于新型碳纤维粉的生产工艺及其装置,涉及碳纤维粉技术领域,包括研磨框,所述研磨框的右侧固定连接有固定框,所述固定框的内部固定连接有电机,所述电机上设置有第一转动杆,该基于新型碳纤维粉的生产工艺及其装置在第一研磨板上设置有研磨槽,研磨杆可以对研磨槽内部的材料进行研磨,通过研磨槽可以使碳纤维粉保持统一的姿态在研磨槽的内部,使得研磨杆不会破坏碳纤维粉的物理性状,解决了目前的基于新型碳纤维粉的生产工艺及其装置,在对碳纤维粉进行研磨会对碳纤维粉的物理性状造成破坏
  • 基于新型碳纤维生产工艺及其装置
  • [发明专利]计算晶圆表面研磨去除率的方法-CN201210458982.X有效
  • 徐勤志;方晶晶;陈岚 - 中国科学院微电子研究所
  • 2012-11-14 - 2013-02-27 - G06F17/50
  • 本发明提供了一种计算晶圆表面研磨去除率的方法,该方法包括:a)设定参考平面、划分计算网格并确定研磨垫微扰形变的初始数据;b)根据微扰压力分布和研磨垫微扰形变的相互关系,使用傅里叶变换计算微扰压力分布,并根据外部施加压力和微扰压力分布计算接触压力分布;c)根据接触压力分布确定晶圆的研磨去除率。本发明的实施例还可以用晶圆表面的研磨去除率实时的计算晶圆表面形貌。本发明计算简洁,实现方便,物理意义明确,所得到的物理量能深刻揭示两体接触的内在本质。
  • 计算表面研磨去除方法

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